商标 | 名称 | 商标注册号 | 类号 |
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SMIC | 1797385 | 第9类 |
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中芯 | 3933285 | 第9类 |
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SMIC | 3933287 | 第9类 |
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DDF DOUBLE DENSITY FLASH | 5619861 | 第9类 |
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SMIC UNITED LABS | 8157420 | 第9类 |
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SMIC | 8157421 | 第9类 |
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SMIC | 9436366 | 第9类 |
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SMIC | 2024410 | 第40类 |
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中芯 | 3933286 | 第40类 |
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SMIC | 3933288 | 第40类 |
专利号/专利申请号 | 类型 | 专利名称 | 公布日期 |
CN201621163461.1 | 实用新型 | 监控FinFET器件自发热效应的结构 | 20170419 |
CN201310092800.6 | 发明 | 半导体器件的形成方法 | 20170714 |
CN201110219819.3 | 发明 | 用于甲硅烷化的预处理方法及包括该方法的甲硅烷化方法 | 20160217 |
CN200810040570.8 | 发明 | 集成静电放电器件 | 20110323 |
CN201010118029.1 | 发明 | 用于评价改善负偏压下温度不稳定性效应工艺效果的方法 | 20131211 |
CN200910247209.7 | 发明 | 一种针孔类生长缺陷的检测方法 | 20120725 |
CN201110338861.7 | 发明 | EEPROM存储器及其制作方法 | 20160316 |
CN201110338864.0 | 发明 | CMOS形成方法 | 20160316 |
CN201010532525.1 | 发明 | 芯片固定基座和芯片固定连接方式 | 20150401 |
CN201210332980.6 | 发明 | 半导体检测结构及形成方法 | 20160316 |